In research to be shared at the prestigious 56th International Reliability Physics Symposium (IRPS), researchers from the Indian Institute of Science Bangalore (IISc) will present a paper that details a breakthrough in significantly improving the reliability limits of 3D FinFET technology in sub-14nm technology for System-on-Chip integration.
क्षयरोगाच्या जीवाणूंच्या बाह्य आवरणात सुप्तावस्थेत झालेल्या बदलांमुळे ते अँटीबायोटिक्स पासून बचाव करून दीर्घकाळ जिवंत राहू शकतात असे संशोधकांना दिसून आले.
Mumbai/